测厚仪标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片：

专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线，之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。

对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

品牌：Top和Calmetrics  
Top           产地：澳洲         中国区总代理

Calmetrics      产地：美国       国内代理商

我司代理Top和CalMetics一系列镀层标准片，适用于一六仪器Elite、费希尔Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、博曼BOWMAN、禾苗、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）。

1.薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）； 铑（Rh）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.

2.镀层标准片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。

3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.定制厚度范围：0.01~100μm.

特点：镀层标准片质量精良，精度高、X-Ray仪器专用标准片。

两种品牌的标片都分为一体式与薄片式：

一体式标样又分单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。

例如：单镀层：Ag/Cu，双镀层：Au/Ni/Cu， 三镀层：Au/Ni/Cu/Fe，合金镀层：Zn-Ni/Fe， 化学镀层：Ni-P/Fe。（所有标准片都附有证书）
 

1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等。

2.镀层标准片（一体式）：单镀层：Ag/Cu，双镀层：Au/Ni/Cu， 三镀层：Au/Ni/Cu/Fe，合金镀层：Zn-Ni/Fe， 化学镀层：Ni-P/Fe等。

3.合金标准片（薄片式）：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等。

4.测量厚度范围：0.01-120μm。

我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向供应商定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书，也可代客户送检第三方CNAS资质机构或华东计量院等各类机构校验，并出具校验证书等优质服务。

一般情况下：

划线价格：划线的价格可能是商品的销售指导价或该商品的曾经展示过的销售价等，并非原价，仅供参考。
未划线价格：未划线的价格是商品在阿里巴巴中国站上的销售标价，具体的成交价格根据商品参加活动，或因用户使用优惠券等发生变化，最终以订单结算页价格为准。

活动预热状态下：

划线价格：划线的价格是商品在目前活动预热状态下的销售标价，并非原价，具体的成交价可能因用户使用优惠券等发生变化，最终以订单结算页价格为准。
未划线价格：未划线的价格可能是商品即将参加活动的活动价，仅供参考，具体活动时的成交价可能因用户使用优惠券等发生变化，最终以活动是订单结算页价格为准。

*注：前述说明仅当出现价格比较时有效。若商家单独对划线价格进行说明的，以商家的表述为准。