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Fischer XUV新机出售

XUVXUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此,该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。特性:检出限低、重复精度高,以及测量适用性广,因此特别适用于研究和开发使用配备真空测量室和高性能硅漂移探测器,能够实现精确测量,尤其是对轻元素的

  • 型号:XUV
  • 品牌:Fischer
  • 价格:

XUV

XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此,该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。

菲希尔XUV_.jpg

特性:

  • 检出限低、重复精度高,以及测量适用性广,因此特别适用于研究和开发使用

  • 配备真空测量室和高性能硅漂移探测器,能够实现精确测量,尤其是对轻元素的测试

  • 通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试

  • 准直器和滤波器可切换,因此可适用于各种材料和测试条件

应用:

涂层厚度测量

  • 原子序数从Na(11)开始的轻元素镀层,可测量厚度低至纳米级

  • 铝镀层和硅镀层

材料分析

  • 测定宝石的真伪与原产地

  • 常规材料分析和取证

  • 高分辨率痕量分析


底部简介

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