菲希尔光谱仪维修与XRF荧光光谱仪售后

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FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。

XDL-B 的特色是的距离修正方法。

DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。

对于XDL?-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标準片之下，一样测量。

典型的应用範围如下：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。叁元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。

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